TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA … · 1,67 / Z 0,89 ρρρρ A massa atômica...
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PMT-5858 - TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS
3ª aula
TÉCNICAS DE MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA PARA
CARACTERIZAÇÃO DE MATERIAIS
PMT-5858
3ª AULA
• Interação entre elétrons e amostra
Prof. Dr. André Paulo Tschiptschin (PMT-EPUSP)

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3ª aula
1. INTERAÇÃO ELÉTRONS AMOSTRA O QUE ACONTECE QUANDO UM ELÉTRON ATINGE A AMOSTRA?
E1 = E0
ESPALHAMENTO ELÁSTICO:
Mudança de direção (0 a 180º) sem
mudança na energia dos elétrons. O
espalhamento elástico é responsável
pelo fenômeno de retroespalhamento de
elétrons (sinal importante no MEV).
E1 < E0
ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO:
A direção não muda (± 0,1º), e sim a
energia dos elétrons. A energia dos
elétrons do feixe incidente é transferida
para os átomos levando à emissão de
elétrons secundários, raios-X,
catodoluminiscência, elétrons Auger, etc.
O feixe de elétrons incidente tem tipicamente: Energia 1 a 40 keV Convergência 1º a 0,05º Spot size dp: 1 nm a 1 µm Corrente de feixe 1 pA a 1µA

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ESPALHAMENTO ELÁSTICO (Rutherford)
O espalhamento elástico ocorre com mudança de direção e manutenção de velocidade e, portanto, de energia cinética Ec = mev
2/2. O espalhamento ocorre por repulsão Coulombica (espalhamento de Rutherford). A transferência de energia é menor que 1 eV.
Q ( > φφφφ0 ) = 1,62 x 10-20 (Z2/E2) cot2 (φφφφ0/2) (seção de choque)
Q (> φ0 ) seção para o espalhamento elástico excedendo o angulo φ0 Z número atômico E energia do elétron (keV)
A seção de choque Q ( > φφφφ0 ) corresponde a uma probabilidade de um elétron sofrer desvio ao se chocar com um átomo. A seção de choque é freqüentemente associada ao “tamanho” que um átomo apresenta como alvo para uma partícula incidente. Um conceito associado a esse é o do livre caminho médio λ de partículas que é a distância média que os elétrons viajam antes da ocorrência de eventos de interação.
λλλλ = A/(NAρρρρQ)
A peso atômico NA número de Avogadro ρ densidade Q seção de choque
O ESPALHAMENTO ELÁSTICO VARIA COM Z2 E CONSTITUI A BASE DO
SINAL DE ELÉTRONS RETROESPALHADOS SENSÍVEIS À COMPOSIÇÃO
QUÍMICA DA AMOSTRA (IMAGEM COMPOSICIONAL)
ES.PALHAMENTO ELÁSTICO DESVIA OS ELÉTRONS DA DIREÇÃO DO
FEIXE, TORNANDO SUA TRAJETÓRIA DIFUSA, SENDO RESPONSÁVEIS
PELA PERDA DE RESOLUÇÃO

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Espalhamento elástico em função do número atômico Z para E0 = 10 kV
Espalhamento elástico em função da energia dos elétrons (E0) para o Fe
CAMINHO MÉDIO DO ESPALHAMENTO ELÁSTICO (nm e φφφφ0 > 2)
Elemento Energia (keV)
10 20 30 40 50
C 5,5 22 49 89 140 Al 1,8 7,4 14 29 46 Fe 0,3 1,3 2,9 5,2 8,2 Ag 0,15 0,6 1,3 2,3 3,6 Pb 0,08 0,34 0,76 1,4 2,1 U 0,05 0,29 0,42 0,75 1,2

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ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO Perda de energia média (> 3 a 5 keV)
dE/ds (eV/nm) = k Z ln E/ A E
k constante Z número atômico A massa atômica (g/mol) E energia do elétron (keV)
Perda de energia por espalhamento não elástico
ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO LIMITA O PERCURSO DOS ELÉTRONS,
QUE FINALMENTE SÃO CAPTURADOS PELO SÓLIDO. EM
CONTRAPARTIDA, FORNECEM ENERGIA PARA O SÓLIDO, SENDO
RESPONSÁVEIS PELA EMISSÃO DE ELÉTRONS SECUNDÁRIOS, RAIOS-X,
ETC.

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CARACTERÍSTICAS DO ESPALHAMENTO DOS ELÉTRONS
SITUAÇÃO DESEJADA SITUAÇÃO REAL
⇒ ESPALHAMENTO ELÁSTICO CAUSA ESPALHAMENTO ALÉM DO DIÂMETRO
DO FEIXE DE ELÉTRONS INCIDENTE
⇒ ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO LIMITA O PERCURSO DOS ELÉTRONS
Mesmo com o feixe incidente tendo um spot size dp abaixo de 1 µµµµm, o
volume de interação em um material de baixa densidade e baixo
número atômico tem dimensões de vários micrometros.
A taxa de transferência de energia varia rapidamente ao longo da
trajetória ou do volume de interação, sendo maior no ponto de
incidência.
O volume de interação para um material de baixa densidade e baixo
número atômico tem a forma de uma pêra.

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2. VOLUME DE INTERAÇÃO
VISUALIZAÇÃO DIRETA EM POLIMETILMETACRILATO (PMMA)
20 keV, Ip e dp constantes. Tempo variável
Contornos de energia em um sólido de número atômico baixo (PMMA)

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Simulação de Monte Carlo
CÁLCULOS DE INTERAÇÃO ELÉTRONS - AMOSTRA
SIMULAÇÃO DE MONTE CARLO PARA A TRAJETÓRIA DOS ELÉTRONS MÉTODOS DOS AUTÔMATOS CELULARES
⇒ calcula o espalhamento elástico (passo e ângulo) e
não elástico (perda de energia);
⇒ percurso do elétron em cada passo, com
informações de posição (x, y, z), energia e
velocidade;
⇒ registro da distribuição de elétrons retroespalhados e
secundários gerados.

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CÁLCULOS DE MONTE CARLO
Amostra: Fe, 20 keV
5 trajetórias
100 trajetórias
QUAL É O VOLUME DE INTERAÇÃO ELÉTRONS - AMOSTRA? Amostra: Fe, 20 keV
Trajetória de elétrons Locais de geração de raios-X característico
VOLUME DE INTERAÇÃO: elétrons secundários e retroespalhados,
raios-X característico e contínuo, etc.

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MONTE CARLO – DEPENDÊNCIA DA ENERGIA DO FEIXE Amostra: Fe
R = 0,55µm
R = 1,82µm
R = 3,7µm 10 keV 20 keV 30 keV
R ~ E 1,67
MONTE CARLO – DEPENDÊNCIA DO NÚMERO ATÔMICO
Energia do Feixe de Elétrons = 20 keV, Tilt (inclinação) = 0
R = 3.98µm
R = 1.69µm
C, Z = 6 Ag, Z = 47
R = 1,82µm
R = 2,03µm
Fe, Z = 26 Pb, Z = 82
R ~ A / (Z 0,89 ρρρρ)

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CÁLCULOS DE MONTE CARLO - ÂNGULO DE INCIDÊNCIA - TILT
Amostra: Fe, 20 keV
0º 30º 60º
Rββββ = R K-O cos ββββ onde, β = ângulo de tilt
DETERMINAÇÃO DO VOLUME DE INTERAÇÃO ELÉTRONS-AMOSTRA
(Kanaya - Okayama)
R (K-O) = 0,0276 A E01,67 / Z0,89 ρρρρ
A massa atômica (g/mol)
E energia do elétron (keV)
Z número atômico ρ densidade

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3. ESPALHAMENTO ELÁSTICO
ELÉTRONS RETROESPALHADOS (BSE)
ηηηη - coeficiente de retroespalhamento de elétrons (backscatter
coefficient)
Fe, Z = 26 Pb, Z = 82
ηηηη = n BSE / nB ,
onde: nB número de elétrons incidentes
n BSE número de elétrons retroespalhados
ηηηη = i BSE / i B
DEPENDÊNCIA DO NÚMERO ATÔMICO
ηηηη cresce com Z
ηηηη med = ηηηη 1 C1 + ηηηη2 C2 + ...

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Mecanismo de contraste gerado por diferença de composições
químicas.
A diferença de sinal BSE entre elementos adjacentes na Tabela
Periódica é tanto maior quanto menor for o número atômico dos
elementos considerados.

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OS ELÉTRONS RETROESPALHADOS RESPONDEM À COMPOSIÇÃO
QUÍMICA DO MATERIAL. PERMITEM FORMAR UMA IMAGEM BSE,
CUJO CONTRASTE É DADO PELA DIFERENÇA DE NÚMEROS
ATÔMICOS.

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DEPENDÊNCIA DA INCLINAÇÃO DA AMOSTRA - TILT
0º 30º
60º
Fe, 20 keV Fe-Si
http://www.gel.usherbrooke.ca/casino/tutorial/tutorial_frames.html
ηηηη (ββββ) = 1 / (1 + cos ββββ)p , onde:
β = tilt
p = 9 / Z ½
ηηηη tende para 1 quando ββββ se aproxima de 90º
Para otimizar o contraste de
número atômico a amostra
deve estar perpendicular ao
feixe de elétrons.
Tilt (ββββ) = 0

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ELÉTRONS RETROESPALHADOS - DISTRIBUIÇÃO LATERAL
Distribuição acumulada radial de BSE
A RESOLUÇÃO ESPACIAL É LIMITADA PELO
ESPALHAMENTO LATERAL DOS BSE.

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ELÉTRONS RETROESPALHADOS - PROFUNDIDADE
Distribuição de BSE em
função da profundidade
Distribuição acumulada de BSE

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ELÉTRONS RETROESPALHADOS -
SUMÁRIO
⇒ Origem: elétrons espalhados elasticamente múltiplas
vezes;
⇒ Abundância: grande número - 5% (C) a 50% (Au);
⇒ Informação:
◊ número - composição
◊ número e trajetória - topografia
⇒ Profundidade da informação: 0,15 a 0,30 D/RK-O para
90% BSE;
⇒ Resolução lateral: 0,20 a 0,50 R/RK-O para 90% BSE;
⇒ Energia: variável, 0 até a energia do feixe incidente;
para Z > 20 mais de 50% dos BSE apresentam energia
superior à metade daquela apresentada pelo feixe;
quanto maior o Z maior a energia dos BSE;
⇒ BSE apresentam energia suficiente para excitar
diretamente os detetores do MEV;
⇒ Resolução diminui (R (K-O) aumenta) com aumento da
voltagem de aceleração dos elétrons (E0) e diminuição
do número atômico (Z) e de densidade (ρρρρ)
R (K-O)= 0,0276 A E01,67 / Z0,89 ρρρρ

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4. ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS (SE)
Feixe primário de elétrons gera
espalhamento não elástico ao atingir um
elétron da camada de valência, com
energia de ligação menor.
• Energia transferida < 50 eV
• Energia mais comum < 5 eV
δδδδ - coeficiente de elétrons secundários
δδδδ = n SE / n B ,
onde: n B número de elétrons incidentes
n SE número de elétrons secundários
CARACTERÍSTICAS DOS ELÉTRONS SECUNDÁRIOS
Definição arbritária:
SE < 50 eV
90% SE < 10 eV
SEs SÃO ELÉTRONS DE ENERGIA MUITO BAIXA
BSE (keV)
SE (eV) SE (eV)

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ELÉTRONS SECUNDÁRIOS -
ONDE SÃO GERADOS?
Praticamente todos os elétrons,
mesmo aqueles que perderam
quase toda a sua energia, são
capazes de gerar elétrons
secundários.
EM QUALQUER LUGAR
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS -
DE ONDE VÊM?
Por causa de sua baixa energia
os SE’s têm trajeto muito
pequeno.
Somente os elétrons secundários
gerados até cerca de 10 nm da
superfície apresentam alguma
chance de sair da amostra.
DA SUPERFÍCIE DA AMOSTRA

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ELÉTRONS SECUNDÁRIOS - DEPENDÊNCIA DO NÚMERO ATÔMICO
Comparação entre SE e
BSE em função do
número atômico (Z).
δδδδ ≈≈≈≈ 0,1 Au ���� δδδδ = 0,2 C ���� δδδδ = 0,05
isolantes ���� δδδδ > 1 pg.110
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS PRATICAMENTE NÃO
APRESENTAM VARIAÇÃO COM O NÚMERO ATÔMICO
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS -
DEPENDÊNCIA DA ENERGIA DO FEIXE DE ELÉTRONS, E0
Variação de (δδδδ - coeficiente de emissão de elétrons secundários)
Elemento 5 keV 20 keV 50 keV
Al 0,40 0,10 0,05
Au 0,70 0,20 0,10
O COEFICIENTE DE GERAÇÃO DE ELÉTRONS SECUNDÁRIOS (δδδδ) GERALMENTE
AUMENTA COM A DIMINUIÇÃO DA ACELERAÇÃO DE VOLTAGEM.
• reduzindo E0 os SEs são gerados mais próximos à superfície, conseqüentemente δδδδ aumenta.
BSE
SE

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ELÉTRONS SECUNDÁRIOS - IMAGEM DE SUPERFÍCIE DA AMOSTRA
ELÉTRONS SECUNDÁRIOS - EFEITO DE BORDA
O sinal de elétrons secundários
apresenta um incremento relativo
próximo às bordas, efeito este
que aumenta com a aceleração de
voltagem (E0) Poder das pontas.

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ELÉTRONS SECUNDÁRIOS -
DEPENDÊNCIA DA INCLINAÇÃO DA AMOSTRA - TILT
R = R0 sec ββββ
δδδδ (ββββ) = δδδδ0 sec ββββ , onde:
β = tilt
δ0 = δ para incidência normal (β = 0)

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CLASSES DE ELÉTRONS SECUNDÁRIOS
SEI - relacionados ao feixe de
elétrons incidente;
SEII - relacionados aos elétrons
retroespalhados.
λλλλ = percurso médio dos SE’s
CONTRIBUIÇÃO RELATIVA DOS SEI E SEII
Distribuição espacial dos
SEI e SEII
δδδδT = δδδδI + δδδδII ηηηη
Elemento δδδδT ηηηη SEII / SEI
C 0,05 0,06 0,18
Al 0,1 0,16 0,48
Cu 0,1 0,30 0,9
Au 0,2 0,50 1,5

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ELÉTRONS SECUNDÁRIOS -
SUMÁRIO
⇒ Origem: elétrons espalhados não elasticamente a partir
da camada de valência;
⇒ Abundância: cerca de 10 % do feixe incidente (5% para
C ; 20% para Au). O coeficiente de geração de elétrons
secundários (δδδδ) geralmente aumenta com a diminuição
da aceleração de voltagem (E0).
⇒ Informação: topografia; praticamente insensíveis a
variação de composição (Z);
⇒ Profundidade da informação: cerca de 10 nm;
⇒ Energia: 0 a 50 eV, sendo 90% < 10 eV. Máximo entre 3 e
5 eV.
⇒ SEs não apresentam energia suficiente para excitar
diretamente os detetores do MEV - têm que ser
amplificados;
⇒ Resolução:
◊ ALTA: SEI gerados pelo feixe incidente
(baixo E0)
◊ BAIXA: SEII gerados por elétrons
retroespalhados (alto E0).

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5. ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO - RAIOS - X
O ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO GERA DOIS DIFERENTES TIPOS
DE RAIOS-X
•••• BREMSSTRAHLUNG OU CONTÍNUO;
•••• PROCESSO DE IONIZAÇÃO DAS CAMADAS INTERNAS,
PODENDO GERAR RAIOS-X CARACTERÍSTICOS
RAIOS-X CONTÍNUO (BREMSSTRAHLUNG)
Desaceleração dos elétrons incidentes
ao atravessar o campo de Coulomb
dos átomos.
Energia varia de 0 até E0
Icont. = const x Z (E0 - E) / E Curva em forma de hipérbole, sem
se considerar os efeitos de absorção
dos raios-X gerados.

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Espectro da radiação eletromagnética
Radiação contínua e radiação característica

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Radiação característica do Mo para 35 kV voltagem de aceleração

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IONIZAÇÃO DAS CAMADAS INTERNAS
Esquema do mecanismo de
ionização das camadas
internas gerando tanto
elétrons Auger como raios-X
característico.
Diagrama de níveis de energia

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CAMPO DE FLUORESCÊNCIA (Fluorescence yield) Emissão de radiação eletromagnética sob bombardeamento de luz ou de elétrons.
ωωωω - Coeficiente de emissão de raios-X
ωk = nº fótons K produzidos/nº de ionizações da camada K
���� ωωωω aumenta com Z para K, L, M A produção de raios -X é ineficiente
para elementos de baixo número
atômico, bem como na linha L para
os elementos com menor número
atômico.
ω = campo de fluorescência
ENERGIA DOS RAIOS-X CARACTERÍSTICOS A de-excitação de um átomo em seguida à ionização acontece por um mecanismo que envolve transição de elétrons de uma camada ou sub-camada para outra. Esta transição pode ser radiante (com emissão de fótons) ou não radiante (emissão de elétrons Auger).

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Lei de Moseley (1913-1914) constitui a base da análise química qualitativa.
λλλλ = B / (Z - C)2 , onde
λλλλ - comprimento de onda
B, C - constantes diferentes
para K, L, M
Z - número atômico
λλλλ = 1,2396 / E
DIAGRAMA DOS NÍVEIS DE ENERGIA

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RELAÇÃO DE INTENSIDADES ENTRE LINHAS K

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PROFUNDIDADE DE GERAÇÃO DOS RAIOS-X
ρρρρ R = 0,064 (E01,68 - Ec) , onde
ρρρρ - densidade
E0 - voltagem de aceleração
Ec - energia crítica de excitação
R - range
INFLUÊNCIA DA DENSIDADE
ρρρρ = 2,7 g/cm3 ρρρρ = 8,9 g/cm3

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RESOLUÇÃO ESPACIAL DOS RAIOS-X Ti Kαααα, tilt = 0
6 keV 10 keV
20 keV 40 keV 20 keV, tilt = 0
Mg, Kαααα Ti, Kαααα
Cu, Kαααα Nb, Kαααα

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ABSORÇÃO DE RAIOS-X
OS RAIOS-X CARACTERÍSTICOS INTERAGEM COM AS CAMADAS
ELETRÔNICAS INTERNAS DO ÁTOMO.
PODEM PRODUZIR VAZIOS NAS CAMADAS K, L, M E PRODUZIR NOVOS
RAIOS-X CARACTERÍSTICOS (FLUORESCÊNCIA) OU CONTÍNUO.
OS RAIOS-X ORIGINAIS PERDEM ENERGIA A QUAL É ABSORVIDA PELOS
ÁTOMOS DO MATERIAL.
I / I0 = exp - (µµµµ / ρρρρ) ρρρρ x , onde
µµµµ / ρρρρ - coeficiente de absorção de massa
ρρρρ - densidade
x - percurso
Ni

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O coeficiente de absorção de massa é também chamado de
coeficiente de atenuação de massa.
Lei de Beer-Lambert
I = I0 e-µµµµl
I0 é a intensidade do feixe original
I é a intensidade do feixe a uma distância l no interior da substância
µµµµ é o coeficiente de atenuação
O coeficiente de atenuação de massa pode ser reescrito
I = I0 e-(µµµµ/ρρρρ)ρρρρl
ρρρρ é a densidade
(µµµµ/ρρρρ) é o coeficiente de atenuação de massa
ρρρρl é densidade de área ou espessura de massa
Então o coeficiente de atenuação de massa é o coeficiente de
atenuação dividido pela densidade.
Em soluções sólidas temos
Quando um feixe estreito (colimado) passa por uma substância perde
intensidade devido à absorção ou por espalhamento.
O coeficientede absorção de massa mede a perda de intensidade
devida somente à absorção

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Ti Kαααα, tilt = 0
6 keV 10 keV
20 keV 40 keV
20 keV, tilt = 0
Mg, Kαααα Ti, Kαααα
Cu, Kαααα Nb, Kαααα ESPECTRO DE RAIOS-X EM EDS

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Ni, 40 keV

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6. ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO -
ELÉTRONS AUGER
Esquema do mecanismo de
ionização das camadas
internas gerando tanto
elétrons Auger como raios-X
característico.
7. ESPALHAMENTO NÃO ELÁSTICO -
CATODOLUMINESCÊNCIA
EMISSÃO DE FÓTONS NA FAIXA DO ULTRAVIOLETA, VISÍVEL E
INFRA-VERMELHO