Prezentacja programu PowerPoint · 2017-01-17 · Prezentacja programu PowerPoint Author: Tomasz...
Transcript of Prezentacja programu PowerPoint · 2017-01-17 · Prezentacja programu PowerPoint Author: Tomasz...
Analizatory impedancji
Sprzęt pomiarowy
• analizatory impedancji Agilent 4294A, Agilent E4980 i Solartron 1280
• wzmacniacz prądowy Keithley 428• analizatory własnej konstrukcji• Możliwości pomiarowe:
• częstotliwość: 1 μHz – 110 MHz• impedancja: 10 mΩ – 100 TΩ
element R L C
impedancja
𝑍 𝑹 𝒋𝝎𝑳 −𝒋𝟏
𝝎𝑪
𝑍 𝑅 𝜔𝐿1
𝜔𝐶
arg (𝑍) 0𝜋
2= 90° −
𝜋
2= −90°
admitancja
𝑌𝟏
𝑹−𝒋
𝟏
𝝎𝑳𝒋𝝎𝑪
|𝑌|1
𝑅
1
𝜔𝐿𝜔𝐿
arg (𝑌) 0 −𝜋
2= −90°
𝜋
2= 90°
Szczegóły łącznie z przykładowymi widmami impedancji podstawowych połączeń elementów RLC – instrukcja do ćwiczenia „Analiza właściwości zmiennoprądowych materiałów i elementów elektronicznych” laboratorium PDM
R1 C1
R2
C2
R1 C1 R2
C2
Elektryczny model zastępczy
reprezentujący proces relaksacji
debajowskiej
C 1
R2
C2
εjεε *
dielektryk
)()(*
oCj
Cj
1R
1CjY
2
2
1
22
22
21 CRCRj1
1
C
C
C
C
oo
)(*
2222
1
j1
ss )()(
*
oo
sC
C
C
CC 121
;
Polaryzacja relaksacyjna - Debye
Polaryzacja relaksacyjna – Maxwell - Wagner
C1
R1
C2
R2
Zależność rzeczywistej przenikalności (’)
oraz urojonej (”) składowej elektrycznej od
częstotliwości zmian pola elektrycznego
z'
z'' człon relaksacyjny
człon
przewodnościowy
21
2121
RR
CCRR
)(
CPE – element stałofazowy
pulsacja,parametryn,Y,j:gdzie
)nsin(j)ncos(Y)j(YY
)j(Y)CPE(Y,)j(Y
)CPE(Z
o
n
o
n
o
n
on
o
1
22
1
-ImZ
ReZ
CPE
R
CPE
/2n)(1
/2n
Zastosowania
KondensatoryDielektryki i Magnetyki
100 1k 10k 100k 1M 10M 100M
10m
100m
1
10
100
1k
10k
100k
1M
100 1k 10k 100k 1M 10M 100M
-90
-60
-30
0
30
60
90
MLCC 1uF
ceramiczny 100nF
styrofleksowy 330nF
|Z| (o
hm
)arg
(Z)
(°)
Frequency (Hz)
Rs C
Ru
Ls
Element Freedom Value Error Error %
Rs Free(+) 0,043586 N/A N/A
C Free(+) 7,5808E-07 N/A N/A
Ru Free(+) 4,5774E05 N/A N/A
Ls Free(+) 1,536E-08 N/A N/A
Data File:
Circuit Model File: E:\Dokumenty\Dydaktyka\pdm\Wykład 2016\M
ateriały do wykładu\widma kondensatorów\
ceramik 1u - C.mdl
Mode: Run Fitting / Selected Points (0 - 130)
Maximum Iterations: 100
Optimization Iterations: 0
Type of Fitting: Complex
Type of Weighting: Data-Modulus
KondensatoryDielektryki i Magnetyki
Rs C
Ru
Ls
Element Freedom Value Error Error %
Rs Free(+) 0,043586 N/A N/A
C Free(+) 7,5808E-07 N/A N/A
Ru Free(+) 4,5774E05 N/A N/A
Ls Free(+) 1,536E-08 N/A N/A
Data File:
Circuit Model File: E:\Dokumenty\Dydaktyka\pdm\Wykład 2016\M
ateriały do wykładu\widma kondensatorów\
ceramik 1u - C.mdl
Mode: Run Fitting / Selected Points (0 - 130)
Maximum Iterations: 100
Optimization Iterations: 0
Type of Fitting: Complex
Type of Weighting: Data-Modulus
100 1k 10k 100k 1M 10M 100M
100m
1
10
100
1k
10k
100 1k 10k 100k 1M 10M 100M
-90
-60
-30
0
30
60
90
pomiar
model
|Z| (o
hm
)a
rg(Z
) (°
)
Frequency (Hz)kondensator Rs (mΩ) C (nF) Ru (MΩ) Ls (nH)
MLCC 44 ± 0,7% 758 ± 0.1% 0,46 ± 55% 15 ± 0,2%
ceramiczny 237 ± 1,8% 100 ± 0,4% 15 ± 650% 42 ± 0,5%
styrofleksowy 169 ± 3% 326 ± 0,9% 444 ± 4000% 31 ± 1,3%
KondensatoryDielektryki i Magnetyki
100 1k 10k 100k 1M 10M 100M
100m
1
10
100 1k 10k 100k 1M 10M 100M
-90
-60
-30
0
30
60
90
elektrolityczny 1
elektrolityczny 2
elektrolityczny 2 uszkodzony
|Z| (o
hm
)a
rg(Z
) (°
)
Frequency (Hz)kondensator Rs (Ω) C (μF) Ls (nH)
#1 0,24 ± 1,7% 324 ± 2% 37 ± 2%
#2 1,2 ± 1% 84,3 ± 1,5% 25 ± 2%
#2 uszkodzony 3,4 ± 1,4% 63 ± 3% 22 ± 4%
Rs C Ls
Element Freedom Value Error Error %
Rs Free(+) 0,043586 0,00031279 0,71764
C Free(+) 7,5808E-07 1,0177E-09 0,13425
Ls Free(+) 1,536E-08 2,6809E-11 0,17454
Chi-Squared: 0,00019778
Weighted Sum of Squares: 0,051028
Data File: E:\Dokumenty\Dydaktyka\pdm\Wykład 2016\M
ateriały do wykładu\widma kondensatorów\
ceramik 1u.z
Circuit Model File: E:\Dokumenty\Dydaktyka\pdm\Wykład 2016\M
ateriały do wykładu\widma kondensatorów\
ceramik 1u - C.mdl
Mode: Run Fitting / Selected Points (0 - 130)
Maximum Iterations: 100
Optimization Iterations: 0
Type of Fitting: Complex
Type of Weighting: Data-Modulus
KondensatoryDielektryki i Magnetyki
100 1k 10k 100k 1M 10M 100M
100m
1
10
100 1k 10k 100k 1M 10M 100M
-90
-60
-30
0
30
60
90
elektrolityczny 1
elektrolityczny 2
elektrolityczny 2 uszkodzony
|Z| (o
hm
)a
rg(Z
) (°
)
Frequency (Hz)
Rs CPE1 CPE2 Ls
Element Freedom Value Error Error %
Rs Free(+) 3,292 N/A N/A
CPE1-T Free(+) 0,00017641 N/A N/A
CPE1-P Free(+) 0,84984 N/A N/A
CPE2-T Fixed(X) 0 N/A N/A
CPE2-P Fixed(X) 1 N/A N/A
Ls Free(+) 2,0343E-08 N/A N/A
Data File:
Circuit Model File: E:\Dokumenty\Dydaktyka\pdm\Wykład 2016\M
ateriały do wykładu\widma kondensatorów\
elko przed 2.mdl
Mode: Run Fitting / Selected Points (0 - 130)
Maximum Iterations: 100
Optimization Iterations: 0
Type of Fitting: Complex
Type of Weighting: Data-Modulus
Nanoceramika BaTiO3
12
próbka BaTiO3
T. Piasecki, K. Nitsch, R. Pązik, W. Stręk, J. Phys. Conference Series 146 (2009) 012009
nanoproszek BaTiO3 przełom nanoceramiki
Rs Rdc
CPE1
CPE2
C2 R2
C1 R1
Nanoceramika
T. Piasecki, K. Nitsch, R. Pązik, W. Stręk, J. Phys. Conference Series 146 (2009) 012009
Nanoceramika - model
T. Piasecki, K. Nitsch, R. Pązik, W. Stręk, J. Phys. Conference Series 146 (2009) 012009
Rs Rdc
CPE1
CPE2
C2 R2
C1 R1
Nanoceramika BaTiO3
15T. Piasecki, K. Nitsch, R. Pązik, W. Stręk, J. Phys. Conference Series146 (2009) 012009
Najważniejsze wnioski:• za przewodnictwo elektryczne
odpowiada faza amorficzna• wykryto relaksacje dielektryczne• potwierdzono ferroelektryczne
właściwości fazy krystalicznej
Tytan pokrywany warstwą hydroksyapatytu
• Hydroksyapatyt (HA) – Ca10(PO4)6(OH)2
• Warstwy otrzymywane technika natryskiwania plazmowego z zawiesiny
Piasecki T. et al., Surface & Coatings Technology, 205 (2010) 1009-1014
Piasecki T. et al., Optica Applicata 39 (2009) 915-92116
Tytan pokrywany warstwą hydroksyapatytu
• W badaniach elektrycznych wykryto fazę amorficzną, której nie wykazały
badania XRD
• Zaproponowano metodę na porównanie porowatości opartą na obserwacji
zmian właściwości elektrycznych w trakcie odparowania wody z nasączonej
nią próbki
17Piasecki T. et al., Surface & Coatings Technology, 205 (2010) 1009-1014
Piasecki T. et al., Optica Applicata 39 (2009) 915-921
Struktury cienkowarstwowe AlxOy
18Tadaszak K., et al., Microelectronics Realiability, 51 (2011) 1225-1229Tadaszak K., et al., Materials Science – Poland, 30 (2012) 323-328
Czujniki impedancyjne
Van Gerwen P. et al. Sensors and Actuators B 49 (1998) 73-80
Granica metal - elektrolit
Czujnik z elektrodamipalczastymi wykonanyna utlenionym krzemie
Rs CPEc
Rc CPEdl
Rct
Element Freedom Value Error Error %
Rs Free(+) 50 N/A N/A
CPEc-T Free(+) 8E-09 N/A N/A
CPEc-P Free(+) 0,9 N/A N/A
Rc Free(+) 4000 N/A N/A
CPEdl-T Free(+) 2E-06 N/A N/A
CPEdl-P Free(+) 0,7 N/A N/A
Rct Free(+) 10000 N/A N/A
Data File:
Circuit Model File: C:\Users\Paulinka\Desktop\modele\korozja
.mdl
Mode: Run Fitting / All Data Points (1 - 1)
Maximum Iterations: 1000
Optimization Iterations: 0
Type of Fitting: Complex
Type of Weighting: Calc-Modulus
Elektryczny model równoważny, gdzie Rs – rezystancja elektrolitu, CPEc – pojemność wynikająca z chropowatości
próbki, Rc – rezystancja warstwy porowatej, Rct –rezystancja transportu elektronów, CPEdl – pojemność
elektrycznej warstwy podwójnej
10-2 10-1 100 101 102 103 104 105102103104105106107108109
1010
Częstotliwość (Hz)
|Z|
próba nr 2 - na początkupróba nr 2 - po tygodniupróba nr 2 - po dwóch tygodniach
10-2 10-1 100 101 102 103 104 105
-100
-75
-50
-25
0
25
Częstotliwość (Hz)
theta
Porównanie widm impedancyjnych po tygodniowej i dwutygodniowej inkubacji
w 3% roztworze NaCl
10-2 10-1 100 101 102 103 104 105102103104105106107108109
Częstotliwość (Hz)
|Z|
bazowapróba nr 1próba nr 2próba nr 3
10-2 10-1 100 101 102 103 104 105
-100
-75
-50
-25
0
25
Częstotliwość (Hz)
theta
Zestawienie widm impedancyjnych w zależności od stopnia napigmentowania
próbki:próba nr 2 – 0,2%, próba nr 3 – 0,5%,
próba nr 4 – 1%
Czujniki impedancyjne
BSA BSABSA BSA BSA
1. Białka, przeciwciała (systemy immunologiczne)
grubość warstwy < 100 nm
2. Bakterie, komórki
100 nm < grubość warstwy < 100 µm
3. Biofilm
100 µm < grubość warstwy
Bakterie na powierzchni czujnika
Escherichia coli
Staphylococcus aureus
S. M. Radke, E. C. Alocilja, IEEE SENSORS
JOURNAL VOL. 4, NO. 4, AUGUST 2004
X. Tang et al., Sensors and Actuators B 156
(2011) 578– 587
Granica metal – elektrolit a biologia
T. Kim, J. Kang, J-H Lee,J. Yoon, Water Res
45 (2011) 4615-4622
X. Guo, A. Kulkarni, A. Doepkeet. al., Anal. Chem.84 (2012) 241-246
P. Van Gerwen, W. Layreynet. al., Sensor. Actuator. B
49 (1998) 73-80
ΔC
dl
Fe(CN6)3-/4-
zablokowanawymiana el.
zno
rmal
izo
wan
a R
ct
Badania wzrostu biofilmu
Pseudomonas aeruginosaCDC, Public Health Image Library
• Szczep P. aeruginosa PAO1 (ATCC 15692) oraz ATCC 27853, stężenie 105 CFU/ml w bulionie Muellera Hintona
• Inkubacja w temperaturze 37°C• Sterylizacja termiczna układu pomiarowego• Ograniczenie odparowania wody w trakcie inkubacji• Jednoczesny pomiar impedancji 8 czujników
Kamerton jako czujnik masy biofilmu
H-C Flemming, J. WingenderNat. Rev. Microbiol 8 (2011) 623
T. Piasecki, G. Guła et al., Sensors & Actuators B. Chemical, 189 (2013) 60-65
Badania wzrostu biofilmu
T. Piasecki et al. Evaluation of Pseudomonas aeruiginosa biofilm formation using Quartz Tuning Forks asimpedance sensors, Sensors and Actuators B (Chemical), w recenzji
konduktywnośćmedium
powierzchniaczujnika
Badania wzrostu biofilmu
T. Piasecki et al. Evaluation of Pseudomonas aeruiginosa biofilm formation using Quartz Tuning Forks asimpedance sensors, Sensors and Actuators B (Chemical), w recenzji
Badania wzrostu biofilmu
T. Piasecki et al. Evaluation of Pseudomonas aeruiginosa biofilm formation using Quartz Tuning Forks asimpedance sensors, Sensors and Actuators B (Chemical), w recenzji
konduktancja medium zjawiska na powierzchni czujnika
Wniosek: Wykryto elektrycznie rozwój mikroorganizmów oraz jeden z etapów ewolucji biofilmu. Możliwe jest skonstruowanie systemu pomiarowego łączącego metodę masową i impedancyjną