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Parte III

Alguns modos de operação

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Amostra cristalina

d

Plano focal

Padrão de difração

θ

θ

λλλλ

A difração só ocorre quando λ = 2dsenθ – Lei de Bragg

Plano

imagem

(Espaço recíproco)(Espaço direto)

Modos de operação

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Alguns modos de operação

Imagem:

campo claro, campo escuro, HRTEM

Difração:

SAD, CBED

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Imagem:

campo claro, campo escuro, HRTEM

Difração:

SAD, CBED

Alguns modos de operação

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Difração é um fenômeno exclusivamente ondulatório diretamente relacionado à

interferência.

d

d

DetectorMede a intensidade

do sinal que o

atinge.

Resultado da

interferência de

várias ondas!

O sinal é máximo quando as duas ondas em questão sofrem interferência construtiva!!

A diferença de caminho entre elas for igual a nλ

Difração – formulação de Bragg

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d

d

Detector

Mede a intensidade

do sinal que o

atinge.

O sinal é máximo quando as duas ondas em questão sofrem interferência construtiva!!

A diferença de caminho entre elas for igual a nλ

θθθθ

θθθθ

d

d senθθθθ

2d senθ = nλ Lei de Bragg

Relaciona o espaçamento d com o comprimento de onda λ

Difração – formulação de Bragg

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d(hql)

1kr

2kr

λ

π221 == kkrr

θ θ

Kkkrrr

=− 12

Da condição de Laue:

Kr

hql

hqld

kπ2

=r

Devemos nos lembrar que existe um vetor ,

perpendicular a d e tal que:hqlkr

Sendo assim temos que e são paralelos.Kr

hqlkr

Equivalência entre a formulação de von Laue e a de Bragg

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1kr

2kr

λ

π221 == kkrr

Kr

A formulação de von Laue e a esfera de Ewald

Kkkrrr

=− 12

A condição de Laue:

Se K for um vetor da rede recíproca

então ocorrerá a difração.

1kr

A ponta do vetor -k1 toca o ponto definido

pelo vetor K.

Qualquer outro ponto da rede que for

tocado por k1, satisfará a condição de Laue.

Quais seriam esses pontos?

Todos que forem tocados pelo círculo

de raio k1 centrado em k2.

1kr

Kr

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1kr

Kr

1kr

Também satisfaz a condição

de Laue!

A esfera de Ewald

λ

π221 == kkrr

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Difração – a condição de dois feixes

Curva de distribuição de

intensidades

Intensidade do feixe

difratado em função do

parâmetro s ( erro de

excitação).

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Difração – a condição de dois feixes

Curva de distribuição de

intensidades

Intensidade do feixe

difratado em função do

parâmetro s ( erro de

excitação).

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Difração – a condição de dois feixes

Curva de distribuição de

intensidades

Intensidade do feixe

difratado em função do

parâmetro s ( erro de

excitação).

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Difração – a condição de dois feixes

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

“back focal plane”

2ΘB

Plano imagem

f

O hkl

D = 2fθB

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Difração – a condição de dois feixes

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Difração – a condição de dois feixes – efeito de espessura

Para amostras finas os pontos

do espaço reciproco, cortados

pela esfera de Ewald deixam

de ser pontos, tornando-se

pequenos bastões.

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Difração – a condição de dois feixes – efeito de espessura

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Difração – a condição de dois feixes – efeito de espessura

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Difração – efeito de espessura - convenções

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amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

“back focal plane”

2ΘB

Plano imagem

f

Difração de área selecionada (SAD)

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 201283

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

“back focal plane”

2ΘB

Plano imagem

f

Difração de área selecionada (SAD)

amostra

(hkl)

ΘB

“back focal plane”

Plano imagem

f

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amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

2ΘB

Plano imagem

f

Difração de área selecionada (SAD)

Colocar uma

abertura no plano imagem,

tem o mesmo efeito de

selecionar uma parte da

amostra para formação do

padrão de difração.

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amostra

(hkl)

ΘB

“back focal plane”

Plano imagem

f

Difração de área selecionada (SAD)

Colocar uma

abertura no plano imagem,

tem o mesmo efeito de

selecionar uma parte da

amostra para formação do

padrão de difração.

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SAD – condição de muitos feixes em eixo de zona

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SAD – condição de muitos feixes em eixo de zona

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SAD – condição de muitos feixes em eixo de zona

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SAD – condição de muitos feixes em policristais

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Desvantagens:

•Area mínima de analise ~500

nm

•Variações de espessura e/ou de

orientação afetam a intensidade

resultante.

SAD – desvantagens

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Alguns modos de operação

Imagem:

campo claro, campo escuro, HRTEM

Difração:

SAD, CBED

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CBED Slides 138 a 165

Difração de elétrons de feixe convergente

Principais aplicações:

• Identificação de grupo de espaço;

• Medidas precisas de parametros de rede;

• Medidas de espessura;

• Determinação de fator de estrutura.

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Difração de elétrons de feixe convergente

Condição de Laue em 3D

Para um conjunto de

planos (hkl)

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Difração de elétrons de feixe convergente

Condição de Laue em 3D

Para um conjunto de

planos (hkl)

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Difração de elétrons de feixe convergente

Condição de Laue em 3D

Para um conjunto de

planos (hkl)

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Difração de elétrons de feixe convergente

Condição de Laue em 3D

Para um conjunto de

planos (hkl)

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Difração de elétrons de feixe convergente

Condição de Laue em 3D

Para um conjunto de

planos (hkl)

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Difração de elétrons de feixe convergente

Condição de Laue em 3D

Para um conjunto de

planos (hkl)

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Difração de elétrons de feixe convergente

Condição de Laue em 3D

Para um conjunto de

planos (hkl)

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Difração de elétrons de feixe convergente

Condição de Laue em 3D

Difração de elétrons

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Difração de elétrons de feixe convergente

Difração com um feixe convergente

Condição de dois feixes

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Difração de elétrons de feixe convergente

Difração com um feixe convergente

Condição de dois feixes

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Difração de elétrons de feixe convergente

Difração com um feixe convergente

Condição de dois feixes

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Difração de elétrons de feixe convergente

Difração com um feixe convergente

Condição de dois feixes

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Difração de elétrons de feixe convergente

Difração com um feixe convergente

Condição de dois feixes

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012106

Difração de elétrons de feixe convergente

Difração com um feixe convergente

Condição de dois feixes

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Difração de elétrons de feixe convergente

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012108

Difração de elétrons de feixe convergente

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012109

Difração de elétrons de feixe convergente

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012110

Difração de elétrons de feixe convergente

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012111

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012112

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012114

Difração com um feixe

convergente na condição de dois

feixes.

Perfil de intensidades

dentro dos discos

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Difração com um feixe

convergente na condição de dois

feixes.

Perfil de intensidades

dentro dos discos

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012116

Difração com um feixe

convergente na condição de dois

feixes.

Perfil de intensidades

dentro dos discos

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012117

Difração com um feixe

convergente na condição de dois

feixes.

Perfil de intensidades

dentro dos discos

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Variação do erro de excitação s dentro dos discos

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Difração com um feixe convergente

(CBED) na condição de dois feixes.

Linhas bem definidas

Observada para reflexões

com alto indices hkl e

grande distância de

extinção ξg..

Reflexões longe do centro

do padrão.

franjas

Observadas para reflexões

com baixo indices hkl e

pequena distância de

extinção ξg..

Reflexões próximas do

centro do padrão.

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Difração com um feixe convergente (CBED)

na condição de muitos feixes.

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Alguns modos de operação

Imagem:

campo claro, campo escuro, HRTEM

Difração:

SAD, CBED

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Imagem

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

“back focal plane”

Plano imagem

f

Os mecanismos que originam

contraste na imagem:

• Espessura;

• N° Atômico;

• Interferência.

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Imagem

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

“back focal plane”

Plano imagem

f

Os mecanismos que originam

contraste na imagem:

• Espessura;

• N° Atômico;

• Interferência.

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Imagem – Campo Claro

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

“back focal plane”

2ΘB

Plano imagem

f

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Imagem – Campo Claro

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

“back focal plane”

2ΘB

Plano imagem

f

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Imagem – Campo Claro

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

“back focal plane”

2ΘB

Plano imagem

f

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012128

Imagem – Campo Claro

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

“back focal plane”

2ΘB

Plano imagem

f

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012129

Imagem – Campo Claro

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

“back focal plane”

2ΘB

Plano imagem

f

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012130

Imagem – Campo Claro

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

“back focal plane”

2ΘB

Plano imagem

f

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012131

Imagem – Campo Escuro

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

2ΘB

Plano imagem

f

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012132

Imagem – Campo Escuro

amostra

Eixo óptico

(hkl)

ΘB

objetiva

2ΘB

Plano imagem

f

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012133

Todos os raios

Campo Claro

Campo Escuro

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012134

Imagem anelar de Campo Escuro a Alto Angulo - HAADF

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012135

Alguns modos de operação

Imagem:

campo claro, campo escuro, HRTEM

Difração:

SAD, CBED

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012136

Alta resolução é um conceito que depende da aplicação;

Poder ver “menor” não significa ter que ver em nanoescala sempre.

Imagem –Alta resolução!!

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012137

Imagem –Alta resolução!!

Em geral o termo “alta resolução” se refere a imagens em escala atômica

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012138

Imagem – Alta resolução

A contribuição das imperfeições do sistema deve ser levada em consideração

na formação da imagem.

Transformada

de Fourier

Transformada de

Fourier Inversa

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012139

Imagem – Cuidado na interpretação!!

Nem tudo que vemos é do jeito que enxergamos!!

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II Encontro da Rede Mineira de Química - UFSJ - Maio de 2012140

• D B. Williams and C. Barry Carter. Transmission electron

microscopy : a textbook for materials science. New York, Spinger,

2009.

• L. Reimer, H. Kohl Transmission electron microscopy: physics

of image formation New York, NY : Springer, 2008

• B. Fultz, J. Howe Transmission electron microscopy and

diffractometry of materials.Berlin ; New York : Springer, 2008

• J Bozzola; L D Russell. Electron microscopy : principles and

techniques for biologists. Boston, Jones and Bartlett, 2006.

Literatura sobre o assunto: