Diffractomètre de diffraction des rayons X pour poudre … · Rayon de goniomètre : 240 mm ... La...

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Caractéristiques techniques : Générateur haute tension :60 KV, 60 mA . Source à rayons X :Tube de rayons X céramique à anode en cuivre de puissance 1,8 kW. Goniomètre de configuration ϴ-: Rayon de goniomètre : 240 mm Source RX fixe Détecteur X’Celerator mobile (2ϴ) Echantillon (en position horizontale ) mobile (ϴ) Pas : 0.001° Diffractomètre de diffraction des rayons X pour poudre en réflexion (Bragg Brentano) Principe La technique de caractérisation par diffraction des rayons X est une méthode d’analyse non destructive des matériaux cristallins permettant d’identifier la structure de chaque phase cristalline au sein d’un mélange (poudre ou lames). Les diffractogrammes sont obtenus en enregistrant l’intensité du faisceau diffracté en fonction de l’angle de déviation 2ϴ du faisceau incident . Diffractomètre modèle X’PERT Pro MPD PANALYTICAL.

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Page 1: Diffractomètre de diffraction des rayons X pour poudre … · Rayon de goniomètre : 240 mm ... La technique de caractérisation par diffraction des rayons X est une méthode d’analyse

Caractéristiques techniques : Générateur haute tension :60 KV, 60 mA .

Source à rayons X :Tube de rayons X céramique à anode

en cuivre de puissance 1,8 kW.

Goniomètre de configuration ϴ-2ϴ :

Rayon de goniomètre : 240 mm

Source RX fixe

Détecteur X’Celerator mobile (2ϴ)

Echantillon (en position horizontale ) mobile (ϴ)

Pas : 0.001°

Diffractomètre de diffraction des rayons X

pour poudre en réflexion (Bragg Brentano)

Principe

La technique de caractérisation par diffraction des

rayons X est une méthode d’analyse non destructive

des matériaux cristallins permettant d’identifier la

structure de chaque phase cristalline au sein d’un

mélange (poudre ou lames).

Les diffractogrammes sont obtenus en enregistrant

l’intensité du faisceau diffracté en fonction de l’angle

de déviation 2ϴ du faisceau incident .

Diffractomètre modèle X’PERT Pro MPD

PANALYTICAL.